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蔡司MICURA –高度的扫描平台

来源:企划编辑 浏览: 发布日期:2015-03-30 09:23:26

高度的MICURA测量中心非常适合小型工件,提供高度的扫描技术。利用VAST的扫描技术使工件的几何量测量可以快速度获得高品质测量结果。大化确保产品质量并将废品率降至低限度。

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重要特征
坚固耐用的机械设计
• X轴和Z轴均采用工业陶瓷作为导轨材料,具有良好的刚性,并有防止温度波动及湿度和其他环境条件的影响
• 适合车间的玻璃陶瓷光栅尺受粉尘和其他杂质的影响小
• 三轴均采用四面环抱气浮轴承,可在高速运行和加速的条件下保持刚性和稳定性
机器技术
值得信赖的控制技术
• 专利的计算机辅助误差技术(CAA),用于计算机辅助动态修正,保证测量结果准确可靠
• C99控制柜,来自ZEISS的控制技术,实现机器和探头的佳匹配
• 模块化设计确保维保便捷并全面满足未来升级需求
• 用户友好型标准控制面板,更方便、确地控制所有轴向运动;无级变速旋钮,随时调整测量速度
探头
VAST XT Gold:配备ZEISS VAST XT Gold主动扫描探头,提供大度的高速扫描,可单点和扫描,确测量深孔元素,对尺寸、形状及位置测量可靠性高
选项
设备的探针更换架具有非常高的更换重复度,无需再次校准
尺寸
测量范围 X x Y x Z [mm]
MICURA 500 x 500 x 500
长度测量误差(µm):0.7 + L/400*起
*—L=测量长度以mm为单位
—根据设备规格、所配探头及使用环境不同,度有所不同
App
ZEISS用户友好型功能App库
• 基本App包和选项产品满足所有的实际应用需求
• 化的面向对象编程模式
• 全面模拟
• 支撑不同的探头
• 图形化日志和统计

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